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便携式合金分析仪-VANTA

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 引言

对于工业组件供应商来说,或者在工业厂区的操作中,PMI检测和材料的鉴别都是非常关键的环节。合金材料的设计需根据具体的要求而定,如:抗腐蚀性能、温度耐受性能,或某些机械特性。合金材料的混淆会导致所生产的组件出现问题。组件出现问题会造成成本损失,其中包括:停工、维修与更换、材料损失(或泄漏)、环境危险和火灾、以及成批污染。

手持式XRF(HH-XRF)是一种快速无损检测(NDT)技术,用于检测合金的组成成分,确认合金的牌号,并对材料的成分进行辨别(PMI)。无论是生产组件,接收合金材料,安装管道、阀门或其它关键性的部件,还是对在役工艺流程系统进行简单的确认检查,手持式XRF分析仪都可以对材料进行快速、明确的辨别。使用PMI分析仪的操作人员可以迅速辨别材料的混淆情况,从而改进了控制材料的过程,并快速获得利润回报。

1.1 手持式XRF技术的基础知识

大多数合金的组成成分为手持式XRF技术可以探测到的元素(图1)。合金样本,因其同质性,以及其主要包含的成分多为反应非常灵敏的元素,而成为XRF技术理想的分析对象。

XRF图表中的可探测元素

图1. XRF技术可探测的元素 - 从镁到铀

XRF技术的应用过程包含3个基本部分(图2):

  • 一个用于激励(电离化)样本的X射线源(步骤1、2、3)
  • 截取所发射的X射线在被激励(电离化)的材料上产生的(光子)特征图像(步骤4);
  • 处理所获得的光谱特征图像,并将其转化为样本的化学成分和牌号ID结果(步骤5)。

XRF分析过程的步骤

图2. XRF分析过程的几个步骤

由于XRF技术只可对近表面的区域进行检测(只能检测合金样本中10微米左右的高层度),因此要分析带漆层、带镀层、受腐蚀、或是带喷丸处理表面的材料,可能需要对样本进行前处理/磨光。目前,手持式XRF分析仪只可以检测重于钠(Na)的元素。现在还不能对碳、铍、硼或锂元素进行直接测量。

但是,即使存在这些局限性,XRF技术依然可以在原地进行快速(大多数合金需2秒钟时间),而且一般是无损的检测。坚固耐用的XRF工业用套装设备可用于室内、室外和高温应用。虽然手持式PMI分析仪不能保证对所有合金进行冶金认证,但是一般来说可以检测99.5%以上的大多数工业合金。要核查一个牌号,只需从其它相似的牌号中区别出这个牌号即可。一般来说,很容易完成这个操作。手持式XRF可以分辨出特定牌号的不同特性,从而可以非常容易地对含有99 %相同成分的牌号进行区分,如:SS-303、SS-304、SS-321和SS-347;再如:9铬和9铬 V。这些合金的区别可以小到只有0.05%的不同成分。

进行实验室分析,用户需(根据所使用的时间和所花费的资金)支付每次检测的费用,而使用手持式XRF分析仪,用户所花费的几乎所有成本都是前期资本成本。用户购买了XRF PMI分析仪后,他们的每次检测都只是一个耗时2秒钟的“瞄准和发射”过程。由于每次检测的额外成本微不足道,因此用户可以进行大量重复的检测。

生产商在接收材料时需要对材料进行PMI检测,以在厂门前对来料进行核查。在使用和安装时需再次对材料进行检测,以发现在处理来料时可能产生的存放错误。一根焊条,无论是错放在了一个箱子中,还是取自一个错误的箱子,都可以通过检测,在两秒钟之内得到合格或不合格的验证结果。然后,对安装好的、准备投入使用的组件再次进行检测,或者在运送产品之前对产品进行较后的质量控制检测。

只在接收来料时进行一次检测,不能发现在制造或安装的下游过程中出现的错误。对材料进行检测的目的不仅是为了确认材料的正确性,也是为了纠正在放置材料的过程中出现的错误,以避免出现材料混淆问题。使用PMI分析仪进行大量重复的检测是一种可以发现和避免材料混淆的较快、较容易的方法。

从20世纪80年代开始,野外便携式XRF分析仪就已经成为检测不锈钢、铬钼钢、镍合金和钴合金的较理想的工具。分析仪对低合金钢、铜和钛的牌号的处理则会受到更多限制,因为要辨别这些牌号,分析仪需要具有直接测量轻元素的性能,如:铝、硅、硫和磷。过去只在较少的情况下对铝合金的牌号进行检测。要完成有效的铝合金检测,对低于0.5%含量水平的镁、铝和硅元素进行直接测量,至关重要。下面的表1列出了XRF分析仪可获得的各种主要合金元素基于“技术/时间线”的典型检出限(LOD)。

表1. 铁合金中所选元素相对于时间(技术)的大约检出限

 

20世纪的80年代和90年代 21世纪的前十年 21世纪的第二个十年
探测器 碘化汞(Hg Iodide)和硅条带(SiPin) 硅条带(SiPin) 硅漂移
分辨率/计数率 500-1000eV/1k-2K cps(每秒计数) 250 eV/4000 cps 160 eV/100k cps
同位素 X射线管 X射线管
Mg - 镁(在铝中) 不能探测 >2%,有空气净化情况下* 0.200%
Al - 铝 不能探测 较低量,有空气净化情况下 0.200%
Si - 硅 不能探测 较低量,有空气净化情况下 0.050%
P - 磷 不能探测 较低量,有空气净化情况下 0.014%
S - 硫 不能探测 较低量,有空气净化情况下 0.01%
Ti - 钛 1%以上 0.20% 0.008%
V - 钒 1%以上 0.20% 0.008%
Cr - 铬 0.50%以上 0.05% 0.008%
Ni - 镍 0.50%以上 0.20% 0.009%
Cu - 铜 0.50%以上 0.20% 0.006%
Mo - 钼 0.20%以上 0.05% 0.002%

 

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