X光镀层测厚仪_分析仪-深圳市精诚仪器仪表有限公司

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韩国XRF-2000X射线镀层测厚仪

检验电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦，操作非常方便简单

仪器功能

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检验样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒

精度控制：

表层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±12%以内

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