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SEB4双晶探头

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SEB..和SEB..O°系列探头特点:
       用于探测棒材、坯块、杆等中心缺点的标准探头。经常用作在中等和大尺寸物体(如锻造或铸造的物体)中预期区域内缺点的探测(如气孔、微孔和热裂缝)。更适合于用作与物体平面平行的缺点区域准确范围的确定(如层状结构缺点、渣孔及厚钢板中的他隔线)。
具体型号有:
SEB1、SEB1-EN、SEB2、SEB2-EN、SEB2- O°、SEB4、SEB4-EN、 SEB4- O°、SEB4-EN- SEB2-EN-O°
德国KK探头SEB2-EN双晶探伤仪直探头主要应用:
通常:近表面的小缺点探测和评估。焦点内大缺点以及平行于表面分布的缺点检验。剩余壁厚的测量(即使在高温情况下)。
l         壁厚余量,锈蚀、腐蚀
l         近表缺点检验
l         小零件—螺钉,螺栓,销钉
l         覆层和堆焊层
l         粘接检验
l         轴,杆,方坯芯部缺点
l         粗晶材料

 

德国KK探头SEB2-EN双晶探伤仪直探头主要特性:
l         近表分辨率较佳
l         对曲面工件也能沿其轮廓进行检验
l         欧款有侧装Lemo 00连接口,SEB..KF型Microdot侧装
l         美款有固定BNC电缆(ADP)或侧装MMD(FDU)

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