氧化膜厚度测试仪pd-CT1

日照氧化膜厚度测试仪pd-CT1概述

本仪器是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、准确地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检验领域，是材料保护有经验必选的仪器。

本仪器符合以下标准：

GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法

JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪

JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》

JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》

日照氧化膜厚度测试仪pd-CT1基本参数

l 采用了磁性和涡流两种测厚方法

l 测量范围：（0～1250）μm

l 低限分辨率：1μm

l 测量精度： ±（1%H+1）μm，H为被测涂层厚度

l 显示方法：高对比度的LCD液晶显示，高亮度EL背光

l 存储容量：可存储5组测量数据，每组较多保存100个测量值

l 显示单位：公制（μm）、英制（mil）

l 工作电压：3V（一节CR123A型锂电池）

l 外形尺寸：136mm×76mm×25mm

l 整机重量：约200g

日照氧化膜厚度测试仪pd-CT1特点

l 采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

l 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

l 具有两种工作方式：直接方式(DRT)和批组方式(GRP)；

l 具有高精度测量模式：多次测量取平均，并对可疑数据进行自动过滤，可确保测量值更加准确、稳定；

l 具有温度补偿功能：可自动对环境温度及测头温度改变引起的测量误差进行补偿，使测量更准确；

l 设有五个统计量：平均值（MEAN）、非常大值（MAX）、较小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）；

l 可采用零点校准、单点校准或两点校准法对仪器进行校准,并可用基本校准和温度系数校准法对测头的系统误差进行修正；

l 具有半自动在线模式，只要打开连续测量和批组模式，关闭高精度，可以拿着探头在被测物体上实现实时测量和实时存储功能。

l 具有耐酸碱型，采用人工红宝石，和高抗酸碱的材质保护探头

l 具有存储功能：较多可存储500个测量值；

l 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的所有数据，以便进行新的测量；

l 可设置限界：对限界外的测量值自动启动紧急信号；

l 具有电源电量指示功能；

l 操作过程有蜂鸣声提示；

l 设有三种关机方式：手动关机方式、超时自动关机方式以及低电量自动关机方式，并可设置超时自动关机等待时间，自动关机时伴有背光闪烁及蜂鸣提示；

日照氧化膜厚度测试仪pd-CT1使用环境

l 温度：0℃～40℃

l 湿度：20%RH～90%RH

l 周围环境无强烈振动、无强烈磁场、无腐蚀性介质及严重粉尘

日照氧化膜厚度测试仪pd-CT1标准配置

日照氧化膜厚度测试仪pd-CT1技术参数表

注：H——厚度标称值

日照氧化膜厚度测试仪pd-CT1测头选用参考表

日照氧化膜厚度测试仪pd-CT1中科朴道技术北京有限公司