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MiniTest 720涂层测厚仪

产品信息

产品详细

MiniTest700系列涂层测厚仪按照人体工学设计,外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性,MiniTest740可以轻易由内置探头变换为外置探头,方便测量难以到达的部位。MiniTest700系列涂层测厚仪可以满足您所有涂层测量需求:如果您想单手测量,可以选择内置探头的MiniTest720。MiniTest730则是外置探头的。所有型号都配有超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。

预设选项节省您的时间和钱
所有MiniTest700系列涂层测厚仪的探头都可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时,整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。为节省您的时间和钱,仪器预设了大量校准方法,适用于各种表面情况和精度要求。您可选择出厂校准,零点校准,两点校准和三点校准。另外,还有针对不同粗糙程度的粗糙度校准。FN探头自动识别基体类型避免操作者犯错。为适应大部分国家销售需要,MINITEST 700系列涂层测厚仪满足各种全部标准:SSPC-PA2、ISO、瑞典(SS184160)、澳大利亚(AS 3894.3)、ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。

MiniTest700系列涂层测厚仪优点一览:
-SIDSP使测量不受干扰,测值更加准确
-可更换探头使用更加灵活(MiniTest740探头可由内置换为外置)
-FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高准确度的特征曲线
-大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
-菜单指引操作,25种语言可选
-带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件

MiniTest700系列涂层测厚仪技术参数
主机

主机型号 MiniTest720 MiniTest730 MiniTest740
探头类型 内置 外置 内置外置可换
数据记忆组数 10 10 100
存储数据量 较多10,000个 较多10,000个 较多100,000个
统计值 读值个数、较小值、非常大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合全部标准和规范 ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准
校准模式 出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准,使用者可调节补偿值
较限值监控 声、光启动紧急信号提示超过较限
测量单位 μm,mm,cm;mils,inch,thou
操作温度 -10℃~60℃
存放温度 -20℃~70℃
数据接口 IrDA 1.0(红外接口)
电源 2节AA电池
标准 DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
体积 157mm x 75.5mm x 49mm
重量 约175g 约210g 约175g(内置)/230g(外置)


探头

探头特性
F1.5,N07,FN1.5
F2
F5,N2.5,FN5
F15
F
N
F
F
N
F
测量范围
0~1.5mm
0~0.7mm
0~2mm
0~5mm
0~2.5mm
0~15mm
使用范围
小工件,薄涂层
粗糙表面
标准探头,使用广泛
厚涂层
测量原理
磁感应
电涡流
磁感应
磁感应
电涡流
磁感应
信号处理
探头内部32位信号处理(SIDSP)
准确度
±(1μm+0.75%读值)
±(1.5μm+0.75%读值)
±(5μm+0.75%读值)
重复性
±(0.5μm+0.5%读值)
±(0.8μm+0.5%读值)
±(2.5μm+0.5%读值)
低端分辨率
0.05μm
0.1μm
1μm
较小曲率半径(凸)
1.0mm
1.5mm
5mm
较小曲率半径
(凹,外置探头)
7.5mm
10mm
25mm
较小曲率半径
(凹,内置探头)
30mm
30mm
30mm
较小测量面积
Φ5mm
Φ10mm
Φ25mm
较小基体厚度
0.3mm
40μm
0.5mm
0.5mm
40μm
1mm
连续模式下测量速度
每秒20个读数
单值模式下非常大测量速度
每分钟70个读数


MiniTest700系列涂层测厚仪标准配置

-MiniTest720(内置探头)
--或MiniTest730(外置探头)
--或MiniTest740主机(不含探头,有各种探头可选)
-校准套装含校准片和零板
-操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语
-中文说明书
-2节AA电池
-携带软包
     
推荐配件
-F1.5/N07/FN1.5探头用测量支架

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