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高准确半导体博曼膜厚测试仪

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美国博曼 X射线荧光分析膜厚测试仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能不单性能优越而且价钱超值.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高是五金电镀首饰端子等行业的优选。

美国BOWMAN(博曼)镀层膜厚测试仪应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管?探测器硅PIN检验器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素,应用于.五金电镀端子.连接器.金属等多个领域.
深圳市金东霖科技一直服务于PCB 厂商、五金电镀、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检验中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和较优异的服务都得到客户较高的奖励,在未来我们将继续履行客户的期望、要求和需要。

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