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X射线镀层测厚仪

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X射线镀层测厚仪产品介绍

X射线镀层测厚仪是这款有经验测试金属镀层厚度的仪器,包括镀金、镀镍、镀锌、镀银、镀银等电镀层,较多一次性测5层,高精度移动平台可准确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm,镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同),满足客户不同的测试要求,天瑞仪器X射线镀层测厚仪(国产厂家)打破了国外垄断的局面,在电镀行业得到了客户的广泛认知。

X射线镀层测厚仪技术参数
度适应范围为1530
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
较薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm99.9%
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
仪器尺寸:576W x 495 D x 545H mm

X射线镀层测厚仪测试结果

镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果,以下使用Thick800AX射线镀层测厚仪)对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差,且可在样品上进行准确定位测试

成分Ni(%)

镀层Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

标准偏差

0

0.273409

相对标准偏差

0

1.425257

铜镀镍件测试值

 

X射线镀层测厚仪测试结论:

实验表明,使用Thick800AX射线镀层测厚仪对镀件膜厚测试,结果准确度高,速度快(几十秒),其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美,为产品的更准确测量提供了有利工具。

 

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