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日置IM3570日置IM3570

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阻抗分析仪IM3570元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量)

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 

1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 

LCR模式下较快1.5ms1kHz),0.5ms100kHz)的高速测量 

•基本精度±0.08%的高精度测量 

•适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCRL-Q的测量 

•分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

 主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

 

测量模式

LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量

测量参数

Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q 

测量量程

100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定) 

显示范围

Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),%:±(0.0000%~999.9999%) 

基本精度

Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°

测量频率

4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)

测量信号电平

V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)

输出阻抗

普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω

显示

彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF

测量时间

0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)

测量速度

FAST/MED/SLOW/SLOW2

其他功能

DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能

接口

EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN

电源

AC90~264V,50/60Hz,非常大150VA

打印

拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)

接口

GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)

电源

AC90~264V,50/60Hz,非常大150VA

体积和重量

330W×119H×307Dmm,5.8kg

附件

电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1

 

联系方式

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