古董检测仪edx9000

EDX系列古董分析的仪器，主要用于古董元素指纹识别，可进行比对分析，来达到鉴定真品的作用，一次性可同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，同时，为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司特意根据行业需要可定制作超大型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检验。
        EDX系列仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、货品（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检验必选的科学检验仪器。 

技术指标

  测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
  元素含量分析范围：1ppm—99.99%
 分析精度：0.05%
 同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
 测量镀层：镀层厚度测量较薄至0.001um
 测量对象状态：粉末、固体、液体
 测量时间：60s—200s 
 管压：5KV—50KV
 管流：50uA—1000uA
  输入电压：AC 110V/220V 
 消耗功率：200W  
 环境温度: 15-26℃ 
 相对湿度: ≤70% 
 
标准配置

 超薄窗大面积的原装进口Si-pin/SDD探测器
 非常高信噪增强器
 多套准直器和滤光片系统
 光路增强系统
 内置高清晰摄像头
 加强的金属元素感度分析器
 智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
 面光源
 放大电路
 高低压电源
 无标样分析模型
 智能基体效应校正
 多重安全保护模式

应用领域 
 古陶瓷
 古青铜器
 古首饰
 镀层测厚