主营:半导体器件,半导体器件
所在地:
陕西 西安
产品价格:
100000元/台(大量采购价格面议)
最小起订:
1
发布时间:
2024-12-11
有效期至:
2025-01-11
产品详细
10uS方波浪涌测试设备
一、产品简介
10uS方波浪涌测试设备,是二极管等相关半导体器件测试的重要检测设备,该设备具有如下特点:
1、该系统的测试控制采用自动控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试。
2、该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理。
3、该套测试设备主要由以下几个单元组成:
a、浪涌测试单元
b、阻断参数测试单元
c、计算机控制系统
1、环境温度:8—35℃
2、相对湿度:小于75%
3、大气压力:86Kpa—106Kpa
4、海拔高度:1000米以下
5、电网电压:AC220V±10%无严重谐波
6、电网频率:50Hz±1Hz
7、电源功率:小于5KW
8、供电电网功率因数:>0.9
2.2.1浪涌测试单元
a.通态不重复浪涌电流范围:30~2000A(可选到20000A),分辨率1A,精度<2%±1
b.浪涌电流底宽: 10ms正弦半波,偏差小于±0.2ms(可选1mS.2mS.8.3mS等)
c. 重复浪涌电流时间(可设定):2S~10S
d.浪涌电流重复次数:1~100次,可设定
e.浪涌电流下的压降测试(仅对正弦波,可选方波)
f.浪涌波形和压降波形显示和保存(仅对正弦波,可选方波)
g 10uS方波电流范围100-2000A,分辨率1A,精度<3%±1(可选5000A)
2.2.2阻断测试
a.反向电压:100V~1800V可调
b.反向电压重复频率:DC直流
c.漏电流0.01~2mA,分辨率0.001mA,精度满量程的±5%
e.测试方式:自动测试;
g,适合封装:TO-220、TO-247、TO-3P
2.2.3加热功能(可选功能):显示温度:0-180℃
控温范围:90-180℃
90-125℃ 精度误差1.5%±1
125-150℃精度误差1%±1
150-180℃精度误差2%±1
该套测试设备主要可测试以下器件:
封装:TO-220、TO-247、TO-3P,(其它封装可更换测试夹具工装或可用连线方式)
手动安装测试器件
计算机控制系统是该设备的中心控制单元,设备的所有工作程序,工作时序,开关的动作状态,数据的采集等均由计算机完成。
计算机采用的是工业控制机,具有抗电磁ganraoneng力强,排风量大等特点。