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比表面及孔径分析仪

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JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪 精微高博公司研制系列比表面积分析仪、比表面积及孔径分布仪、BET法比表面积仪、比表面积测定仪等,技术参数如下: 主机功能: (1)吸(脱)附等温曲线测定 (2)孔径分布测定 (3)BET比表面测定,并可测定吸附常数C 值 (4)比表面快速测定(直接对比法) 测定范围: (1)孔径:2nm~200nm (2) 比表面:0.1~3500㎡/g 测量原理: 动态常压连续氮吸附法(国内首创) 气体: 高纯氮(99.99%)、高纯氦(99.99%) 气体流量: ≤100mL/min 流量控制: 稳压稳流系统,高精度流量传感器,数字显示,显示精度0.1% 测量压力: 常压 氮气相对压力:调节范围 0.05-0.98 测量重复精度:≤±3% 测试时间: (1)BET比表面:平均每个样品30分钟 (2)孔径分布:平均每个样品3~4小时 (3)数据采集:恒流电路,气体浓度传感器工作站,放大及滤除杂波系统,采集速度100次/秒。

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