沈阳天星涡流ED400测厚仪

天星涡流测厚仪ED400

产品性能：

·ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型，仪器性能大幅度提高。

·仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查，可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。

·仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

·仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳较氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳较氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。

·ED400型涡流测厚仪与ED300型相比，具有如下特点：

·量程宽:ED400型的量程达到0～500μm。

·精度高:ED400型的测量精度达到2%。

·分辨率高:ED400型的分辨率达到0.1μm。

·校正简便:只校正“0”和“50μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。基体导电率影响小:基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量 误差不大于1～2μm。

·可靠性提高:采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性 提高。

·稳定性提高:采用先进的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器 校正一次可在生产现场长期使用。

·探头线寿命长:采用德国进口的，在德国测厚仪上使用的探头线，探头线寿命可大大延长。

·探头芯寿命长:采用高度度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。

·探头可互换:外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无需返厂维修。

技术参数：

·测量范围:0～500μm。

·测量精度:0～50μm：±1μm；

50～500μm：±2%。

·分辨率:0～50μm：0.1μm；

50～500μm：1μm；

0～500μm：1μm（可选）。

·使用温度:5～45℃。

·外形尺寸:150mm×80mm×30mm。

·重量:260g。

标准配置:

·主机            1台。

·探头            1支。

·基体            1块（6063合金）。

·校正箔片        1片（约50μm，附检验报告）。

·使用说明书      1份。

·合格证          1份。

·保修单          1份。

·手提式仪器箱    1个。

可选附件:

·备用探头。

·基体。

·校正箔片（约50μm，附检验报告）。