徕卡光学表面测量系统

Leica DCM8光学表面测量系统采用了新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是这款结合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，准确软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。

高可重复性

您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂的形貌。通过徕卡Leica DCM8光学表面测量系统高清共聚焦显微镜能够实现2纳米的垂直分辨率。您所查看的产品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?

可从以下三种干涉测量模式中选择：垂直扫描干涉测量(VSI);相移干涉测量(PSI)或者适用于分辨率高达0.1纳米的扩展相移干涉测量(ePSI)。如果您需要快速绚丽的高清二维图像，则LeicaDCM8光学表面测量系统可提供明视场模式和暗视场模式。

快速捕捉表面数据

徕卡Leica DCM8光学表面测量系统采用创新性高清微显示扫描技术。由于传感器头部未使用运动部件，因此设备能够实现快速和可重现的捕捉数据。集成式高清CCD摄像头具有非常大的视场，能够观察非常大的样本面积。对于具有非常大面积区域的样本来说，为获得无缝模型，只需要选择超快XY地形拼接模式即可。

迅速匹配您的样本

徕卡Leica DCM8光学表面测量系统进行配置以便适用于您的样本，从反光性表面，到透明层下的表面，再到需要非常大工作距离的样本-我们都能够提供满足您需求的高品质物镜。对于大尺寸样本来说，从我们的可调整镜筒和电动载物台系列中进行选择。除此之外系统还采用了四种不同颜色的LED灯，能够使您选择适用于具体材料观察的波长。