E+H导波雷达物位计FMP52选型报价

FMP52 导波雷达液位计 带涂层的探杆，适用于腐蚀性介质

测量原理 物位测量

Levelflex 是基于 ToF (行程时间)原理工作的“俯视式”测量系统。对参考点至介质表面间的距离进

行测量。高频脉冲信号被传送至探头，并沿探头传播。脉冲信号在介质表面发生反射，反射信号

被仪表接收，并被转换成物位信息。此测量方法即为 TDR 法(时域反射法)。

介电常数(DC)

介质的介电常数(DC)直接影响高频脉冲信号的反射率。测量大介电常数(DC)的介质时(例如：水和

氨水)，高频脉冲反射信号强；相反，测量小介电常数(DC)的介质时(例如：碳氢化合物)，脉冲反

射信号弱。

输入

脉冲反射信号沿探头传输至仪表后， 由其中的微处理器进行信号分析，识别出高频信号在物料表

面真实的反射回波。仪表使用的信号识别算法(PulseMaster®软件)凝聚了 30 余年基于行程时间技

术的测量经验。

测量参考点至介质表面间的距离(D)与脉冲信号的运行时间(t)呈比例关系：

D = c · t/2

其中，c 为光速。

空标高度(E)已知时，物位(L)的计算公式如下：

L = E – D

测量参考点(R)在过程连接处。请参考外形尺寸示意图：

• FMP51：(→  63)(→  64)

• FMP52：(→  66)

• FMP54：(→  67)

Levelflex 具有干扰回波舒缓功能，可以由用户自行激活。该功能确保了干扰回波(例如：内部装置

和焊缝产生的干扰回波)不会被误识别为真实的物位回波。

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