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x射线荧光镀层测厚仪Thick880

产品信息

产品详细

    优势和特点
    *非常高分辨率、高清摄像头、超便捷操作、超快检验速度、超人性化界面
    *易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
    *有助于识别镀层成分的创新型功能

    *机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室

     


    *按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的准确结果

    *使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

    *用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心
    *Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络,检验结果易于查看和分享
    *有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用


    先进的技术
     *独特的 Peltier 电制冷进口检验器 
       *数字脉冲处理 (DPP) 技术

         *基本参数 (FP) 无标样分析方法

           *高性能、多元素分析

     

    功能强大、易于使用的元素分析软件 
    无标和半无标分析 
    基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法 
    多层厚度及成分 
    不限元素、不限数量的标样 
    利用自动化操作实现多个激发条件

     

    可应用
    *合金分析

    *镀层厚度分析
    *电镀液金属离子分析

    *磁性介质和半导体元素分析 
    *土壤污染元素分析
    *过滤器上的薄膜元素分析
    *塑料中的有毒元素分析


 

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