光谱仪 X射线荧光能谱仪(EDXRF)

能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。

先进的技术

• 独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器

• 数字脉冲处理 (DPP) 技术

• 高性能、多元素分析

• 优异的痕量分析灵敏度

• 高分析量的进程控制

• 适用于异常材料的高等分析算法

• 优异的样品处理灵活性

• 机械简化和灵活性

• 占地面积小、易于运输以进行野外测量

• 快速、简易的安装以及可完全现场定制

• 随附完整的实验室启用套件

• 经验证的硬件和全套软件

• 现场、协同方法开发

• 完整的技术应用支持

• 汇集了数百种应用的专业知识

• 无标和半无标分析

• 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法

• 多层厚度及成分

• 不限元素、不限数量的标样

• 利用自动化操作实现多个激发条件

• 悬浮颗粒物过滤器

• 符合 RoHS 及 WEEE 的分析

• 法医及痕量分析

• 营养补充剂

• 磁性介质和半导体

• 土壤污染

• 过滤器上的薄膜

• 塑料中的有毒元素