供应美国博曼半导体膜厚测试仪

美国博曼（Bowman）半导体膜厚测试仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检验需求。
电制冷固态探测器确保较佳的信/躁比，从而降低检验下限。
探测器分辨率较高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检验结果可准确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。
您可以针对您的应用选择较合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检验。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检验大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
美国博曼（Bowman）半导体膜厚测试仪的产品特点：可检验元素范围：AL13 – U92.可同时测定5层/15种元素/共存元素校正.即放即测！通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。10秒钟完成50nm的较薄金镀层测量！以较佳的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。无标样测量！将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。通过广域观察系统更方便选择测量位置！通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（非常大250×200mm）中方便地指定测量位置

1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检验技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺点得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检验探伤中，一般用前者。