膜厚测试仪

美国博曼（BOWMAN）镀层膜厚测试仪，膜厚仪， 薄膜分析 线路板X-RAY膜厚仪

美国博曼（BOWMAN）膜厚测试仪专门研发用于镀层行业的这款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是这款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

美国博曼BA100膜厚测试仪的主要性能特点：满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

          φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

          高精度移动平台可准确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

          采用高度定位激光，可自动定位测试高度

          定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

          鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

          高分辨率探头使分析结果更加准确

          良好的射线屏蔽作用

          测试口高度敏感性传感器保护

博曼镀层膜厚测试仪，镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-射线镀层测厚仪，可满足所有镀层厚度测量需求的双检验器型镀层测量仪，实现了超微小面积，高精度无损测量。可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. 可测元素范围：钛(Ti) –铀(U)可测量厚度范围：原子序22-92，0.1-0.8μm ，可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。膜厚仪，电镀膜厚仪，膜厚测试仪，X-射线测厚仪，应用于钟表.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金东霖科技始终的目标

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